1、懸掛金具預(yù)絞絲近端
主要是由于感應(yīng)電流引起的干帶電弧放電造成。這是ADSS光纜受電應(yīng)力損傷的主要表現(xiàn)形式。事實(shí)上任何有關(guān)耐電痕測試都是針對干帶電弧放電進(jìn)行測試才能驗(yàn)證光纜護(hù)套抗電痕的能力。
感應(yīng)電流的大小主要由光纜表面上的感應(yīng)電壓（通常用空間電位代替）和濕污電阻的大小決定。空間電位表明了光纜所處的電磁環(huán)境，而濕污電阻表明光纜所處的大氣環(huán)境。并且濕污電阻在一定的大氣污染環(huán)境下隨時(shí)間逐漸降低，最后穩(wěn)定在一個(gè)較小的恒定值。理論計(jì)算和運(yùn)行實(shí)踐均表明，感應(yīng)電流和感應(yīng)場強(qiáng)在預(yù)絞絲端部最大。而感應(yīng)電流在1~2mA時(shí)易發(fā)生干帶電弧放電。
2、懸掛金具近端的防震螺旋棒與光纜接觸部位
由于在該部位易于積垢，在泄漏電流作用下發(fā)熱引起熱力損傷，沿防震棒形成縲旋形的蝕痕。
3、金具預(yù)絞絲端部
這部分損傷主要由于預(yù)絞絲尖端的局部場強(qiáng)高于空氣游離臨界場強(qiáng)形成的電暈放電所引起的，在預(yù)絞絲端部的光纜護(hù)套上形成斑點(diǎn)和小孔。
4、光纜檔距中央?yún)^(qū)和在垂直平面上導(dǎo)線與光纜在空間形成的兩個(gè)空間交叉點(diǎn)附近
這是由于導(dǎo)線弧垂影響，縮小了導(dǎo)線與光纜之間的距離，空間電位增高，在光纜護(hù)套內(nèi)部形成強(qiáng)電場引起熱應(yīng)力劣化，形成樹枝化蝕痕。
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